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279型
测量范围:±3000V自动变换极性 ;
精度:0.1%±0.003%/℃ ;
响应速度:<3ms ;
频率响应:>300Hz±3dB ;
漂移:<0.01V/hr ;
杂讯:<0.3Vrms或2Vp-p ;
表面解析度:1.75mm之Model1034E&S探棒在0.5mm距离下,解析度为2.5mm ;
记录用输出:典型为BNC接头±18V
认证单位:CE、UL
重量:1.8kg
需搭配:Model 1034系列探棒
*非接触测量、准确度0.1%、高精度,无漂移;
*一定范围内与测量距离无关;
*测量绝缘体、半导体或导体标准表面电位;
*特别适用于光电、复印、驻极体的静电监测和控制;
*静电起电与电场研究,集成电路IC制造与处理,静电过程监测与控制;
*高性能,但适中的价格和尺寸;
*可选高或低分辩率探头或透明探头(用于光电、复印);
279L型输入电压为±300 V (代替 ±3kV).的仪器,通过使用高电压电源和放大器部分。
这个改造产品(仪器)将改善噪音特性,仪表性能,减少倾角弓形,关闭探针到表面的间距。
特性:
范围:±300 V
精度:0.1% or 10mV, 任何一个区域
仪表特点:100mV (4 digit LED)
响应速度:3ms, 10% to 90%,
探针尺寸:9 mm x 9 mm x 73 mm
探针电缆长度:3.0m
输出:100:1, ±3 volts满刻度
漂移:少于10mV/h
电压要求:100, 115, 230 VAC, ±10%, 50/60Hz, 15 watts
尺寸:44 x 208 x 384 mm
重量: 1.8kg
配探头:
(9 mm x 9 mm x 73 mm)
1034E 型(端孔 end-viewing)
1034S 型(侧孔 side-viewing)
1034E型 Standard Miniature Probe – End Viewing
1034S 型 Standard Miniature Probe – Side Viewing
1034EL型 Low Resolution Probe – End Viewing
1034EH 型 High Resolution Probe – End Viewing
1034SL型 Low Resolution Probe – Side Viewing
1034T 型 Transparent Miniature Probe